研究背景：電子測量儀器作為基礎(chǔ)科研工具，是國家科研自主可控的重要環(huán)節(jié)。在半導體器件、超導材料和光電器件等測試領(lǐng)域中，為了更**地檢測器件特性，提升整個測試系統(tǒng)的效率，往往對供給電源和測量同步性方面有更嚴苛的要求。

TH1991/TH1992系列精密源/測量單元可輸出高達±210V直流電壓、±3A直流電流以及±10.5A脈沖電流、*小10fA/100nV的電源和測量分辨率，支持高速采樣，可生成任意波形。

TH1992為雙通道版本，相較于單通道版本，TH1992支持雙通道同步輸出及測量，對于3端器件的測試更友好，可極大提升測試效率。

一、二極管I/V特性

晶體二極管也稱為半導體二極管，簡稱二極管（Diode）。內(nèi)部由一塊P型半導體和N型半導體經(jīng)特殊工藝加工，在其接觸面上形成一個PN結(jié)。外部有兩個電極，分別稱為正極（P型區(qū)一側(cè)）和負極（N型區(qū)一側(cè)），使用時不能將正負極接反。

因此，二極管具有單向?qū)щ娦裕捎糜谡鳌z波、穩(wěn)壓等電路中。用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、進行能量轉(zhuǎn)換等。

衡量二極管特性和核心是二極管的伏安特性曲線（簡稱I/V特性）

 二極管分硅管和鍺管

如何測試二極管的I/V特性？以常見的1N4148保護二極管為例

TH199X方案VS傳統(tǒng)方案，區(qū)別在哪兒?

連接好之后，操作更簡單

只需8步，可以將二極管正反向IV曲線全部測出，全程觸摸屏操作，無需連接電腦上位機，曲線可直接截屏及生成csv表格，快捷簡單。

因此，使用TH199X系列精密源/測量單元（SMU）測試更**、更快捷，適合從產(chǎn)線到實驗室各種場合。